芯片检测影像测量仪可以测量十五种几何元素（点,直线,平面,圆,圆弧,椭圆,矩形,键槽,圆环,圆柱,圆锥,球,开曲线,闭曲线,焦面,角度和距离），并且可以测量高度,也可以预置基本几何元素。根据实际测量需求可以选择接触式测量---探针测量，也可以选择非接触式测量---影像和激光位移器测量。多种测量方法: 智能寻边,整体采点,多段采点,鼠标采点,邻近采点,十字线采点,放大采点,对比采点。
国内某大型的芯片生产企业，产品有200多个品种，并在不断的增加，每种芯片产量少则几千件，多则上万件。所有的芯片需要全检，并根据不同的尺寸公差，将产品分成优、良、差三个等级。客户以往的工作方式是采用芯片检测影像测量仪，一个一个进行人工操作测量分级，这对客户来说无疑是巨大的工作量。面对与日俱增的工作量，对检测及分拣自动化提出了要求。
自动软件是我公司自主开发自动影像加探针和激光位移器测量应用软件，可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测，也可以使用探针进行三维几何元素测量,也可以用激光位移器测量平面度和高度。应用于各种精密制造业，如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,pcb,lcd等行业。可测量的材料包括金属,塑料,橡胶,玻璃,pcb,陶瓷等;
芯片检测影像测量仪技术参数：
工
作
台
仪器型号
evm-1510g
evm-2010g
evm-2515g
evm-3020g
evm-4030g
金属台尺寸(mm)
354×228
404×228
450×280
500×330
606×466
玻璃台尺寸(mm)
210×160
260×160
306×196
350×280
450×350
运动行程(mm)
150×100
200×100
250×150
300×200
400×300
仪器重量(kg)
100
110
120
140
240
外型尺寸l*w*h
756×540×860
670×660×950
720×950×1020